X射線膜厚檢測儀性能

更新時間：2020-04-13

簡要描述：

X射線膜厚檢測儀性能是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子，俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值，電腦操作，非常簡單，江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業，thick8000是公司款，采用上照方式，移動測試平臺，使整個自動化程度大幅度提高，滿足快速精確的要求。

產品介紹

X射線膜厚檢測儀性能是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子，俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值，電腦操作，非常簡單，江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業X射線膜厚檢測儀性能生產廠家，thick8000是公司款的，采用上照方式，移動測試平臺，使整個自動化程度大幅度提高，滿足快速精確的要求。

性能優勢

1.精密的三維移動平臺

2.的樣品觀測系統

3.*的圖像識別

4.輕松實現深槽樣品的檢測

5.四種微孔聚焦準直器，自動切換

6.雙重保護措施，實現無縫防撞

7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控制方式，一鍵式操作!

開機自動自檢、復位；

開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；

關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；

點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。

技術指標

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

同時檢測元素：zui多24個元素，多達5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）

SDD探測器：分辨率低至135eV

*的微孔準直技術：zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度：15℃～30℃

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應用領域

X射線膜厚檢測儀廣泛應用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產品的金屬鍍層快速測量。