膜厚測試儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
膜厚測試儀在使用時(shí)，擺放在物件的上方，從儀器當(dāng)中發(fā)射了垂直向下的可視光線。其中一部分光會在膜的表面形成一個(gè)反射，另一部分則會透過儀器的薄膜，在薄膜與物件之間的界面開成反射，這個(gè)時(shí)候，薄膜的表面，以及薄膜的底部同時(shí)反射的光會造成干涉的現(xiàn)象。儀器便是利用了這樣的一種現(xiàn)象，從而測量出物件的厚度。厚度的測量看似簡單，實(shí)測上所利用的光反射原理，卻是需要經(jīng)過一系列的設(shè)計(jì)才能達(dá)到如此理想狀態(tài)。如此光學(xué)膜厚測量儀的使用，便也有著其它傳統(tǒng)測厚儀所沒有的優(yōu)點(diǎn)。
膜厚測試儀的使用注意事項(xiàng)：
1.零點(diǎn)校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結(jié)果的誤差，使測量結(jié)果更加精確。
2.基體厚度不宜過薄
在使用膜厚測試儀對物體進(jìn)行測量時(shí)基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確，影響測量過程的正常進(jìn)行。
3.物體表面粗糙程度
對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鸸獾难苌洌档土斯鈱W(xué)測量儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以保證測量結(jié)果的精確性。
